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扫描型X射线荧光光谱仪XRF-1800型

扫描型X射线荧光光谱仪XRF-1800型

  • 产品型号:XRF-1800型
  • 更新时间:2017-07-08
  • 产品介绍:XRF-1800从仪器的硬件与软件在许多细节都进行了改进,使得仪器的可靠性与可操作性更进一步提高,增加了世界*的250μm微区分布成像分析功能,从而达到更高水平的*程度。作为高灵敏度和微区分析的开拓者,岛津公司非常自信地向用户奉献出的XRF-1800型X射线荧光光谱仪。
  • 在线留言 86-21-54933058/54933060/54933358/54182486/28097339

产品介绍

产品信息

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世界*250μm微区分布成像分析功能!

XRF-1500/1700系列X射线荧光光谱仪是在世界上首先开发出微区分析/分布分析功能,并率先采用了4KW薄窗X射线管,扩大了X射线荧光分析的应用领域,作为具有革命性的仪器而得到了很高评价,业已销售200余台。
XRF-1800从仪器的硬件与软件在许多细节都进行了改进,使得仪器的可靠性与可操作性更进一步提高,增加了世界*的250μm微区分布成像分析功能,从而达到更高水平的*程度。作为高灵敏度和微区分析的开拓者,岛津公司非常自信地向用户奉献出的XRF-1800型X射线荧光光谱仪。


  • 在波长色散型装置中,世界*250μm微区分布成像分析功能(已取得)
    可分析不均匀样品的含量分布、强度分布。

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    稀土元素矿石的XRF-1800成像分析实例

  • 利用高次谱线进行准确的定性/定量分析(申请中)
    高次谱线的判定更加准确,提高了定性定量分析的准确度/可靠性。

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    利用XRF-1800的高次谱线分析刹车片实例

  • 测定高分子薄膜的膜厚与无机成分分析的背景基本参数(BG-FP)法
    利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢(H)元素的信息。高分子薄膜分析中,利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜的信息。

    XRF 4.gif
    使用XRF-1800进行的膜厚测定、薄膜测定实例

  • 微区分析结构
    独自开发的特殊形状的滑动式视野限制光栏,利用r方向滑动与样品旋转控制的q转动,可以在30mm直径内的任意位置进行分析。
     
  • 利用CCD相机可以直接观察样品(选配件)
    在测定室导入样品的位置上,将样品容器按照与测定位置相同的方式放置,通过CCD摄取样品的图像,可使测定位置与图像相吻合。(申请中)
     
  • 配备高可靠性、长寿命的4kW薄窗X射线管
    配备平均寿命在5年以上的高可靠性X射线管。与传统的3kWX射线管相比,轻元素的分析灵敏度提高2倍以上。
     
  • 集成岛津技能精华的模块功能,匹配分析功能
    对应于液体、粉末、固体、金属、氧化物等不同形态的样品具有相应的分析条件,在这基础上可编制zui佳的分析条件。可根据不同材质判定、品种分类、品种判定、*性检索这4种匹配功能进行判定、检索。

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