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产品详细页
日本爱泰克ETAC导通可靠性评价系统

日本爱泰克ETAC导通可靠性评价系统

  • 产品型号:MLR22
  • 更新时间:2016-05-27
  • 产品介绍:日本爱泰克ETAC导通可靠性评价系统
    P为代表的高密度封装部件,因为集成块和基板的热膨胀系
      数不同,在焊接点处产生应力集中。结果将会发生接点破裂。试验槽
      内微电阻测试法,就是将这破裂发生时的时间和低温、高温下的电阻
      值正确地测试出来。这与过去的手动测试法比较,通过全自动测试,
      给出统计解析结果,使测试效率大大提高。
  • 在线留言 86-21-54933058/54933060/54933358/54182486/28097339

产品介绍

                     日本爱泰克ETAC导通可靠性评价系统 导通可靠性评价系统---- MLR22技术参数表

日本爱泰克ETAC导通可靠性评价系统

产品名称 

                               导通可靠性评价装置

型号

MLR22

加载电流

AC电阻测定

DC电阻测定

DC电压测定

加载

加载精度

加载

加载精度

加载档

加载可变范围

加载精度

10μA

±10%

10.000μA

±0.4%/FS

10.000μA

10μA~1nA

±0.4%/FS

100μA

±10%

100.00μA

±0.2%/FS

100.00μA

100μA~10nA

±0.2%/FS

1mA

±10%

1.0000mA

±0.2%/FS

1.0000mA

1mA~100nA

±0.2%/FS

10mA

±10%

10.000mA

±0.2%/FS

10.000mA

1mA~1μA

±0.2%/FS

100mA

±10%

100.00mA

±0.2%/FS

100.00mA

100mA~10μA

±0.2%/FS

加载频率

2kHz±0.1%

DC

测定

电阻档

zui小

分辨率

测定精度

电阻档

zui小

分辨率

测定范围

测定精度

电压档

zui小

分辨率

测定范围

测定精度

2.0000kΩ

100mΩ

±0.4%/FS

200.00kΩ

10Ω

200kΩ~0.00 kΩ

±0.6%/FS

2.0000V

0.1mA

0.0000V~2V

±0.2%/FS

200.00Ω

10mΩ

±0.4%/FS

20.000kΩ

20kΩ~0.000 kΩ

±0.4%/FS

---

20.000Ω

1mΩ

±0.4%/FS

2.0000kΩ

100mΩ

2kΩ~0.0000 kΩ

±0.4%/FS

---

2.0000Ω

100μΩ

±0.4%/FS

200.00Ω

10mΩ

200Ω~0.00Ω

±0.4%/FS

---

200.00mΩ

10μΩ

±0.4%/FS

20.000Ω

1mΩ

20Ω~0.000Ω

±0.4%/FS

---

20.000mΩ

1μΩ

±1%/FS

---

2.0000mΩ

100nΩ

±5%/FS

---

上限电压

20mV

4.1V

限定精度

0~+25%

±0.2V

测定速度

250m色c/ch

自动档

自动选择符合个通道的档

---

试验模式

1)温度循环  2)温度一定  3)无温度判断

数据内容

循环次数、读取时间、电阻值或电压值、判定、加载电流值、温度、湿度

读取周期

1)循环试验模式:在一个循环中,读取高温和低温各一次。      2)定值试验模式:一定周期内读取。

读取

数据量

每一试验, 256chzui大读取200MB(约50,000点/ch)

数据变换

可变换为CSV文档

温度输入

输入通道数:标准2ch(温度2ch或温度、湿度各1ch)

测温传感器:T型热电偶(JIS C1602 )或 Pt100(JIS C1604 3线式) 两种传感器可以自由切换

测温度传感器线径:0.65~1.6mm

温度测定范围:T型热电偶 -250℃~+350℃   Pt100  -200℃~+550℃

相对湿度测定范围:0~100%RH(干湿球方式)

冷接点测定:1ch热敏电阻

测定精度:±1.5%

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