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能量色散型X射线荧光分析装置EDX-GP

能量色散型X射线荧光分析装置EDX-GP

  • 产品型号:EDX-GP
  • 更新时间:2017-07-11
  • 产品介绍:EDX-GP是Z适合用于RoHS/ELV/无卤素法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。*次使用,也能轻松操作,操作简便且以更高的精度进行微量分析,达到Z高灵敏度与Z佳分辨率的*结合。标准配置RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能,用户无需购买特殊选购件,使可以获得Z佳RoHS/ELV/无卤素分析系统 。
  • 在线留言 86-21-54933058/54933060/54933358/54182486/28097339

产品介绍

本装置配置了RoHS/ELV检测中市场占有率zui高的EDX-720型的半导体检测器、滤光片及高计数率电路。
 
 
为什么需要高灵敏度?
能够测定更微量的元素。 测定时间更短,因此相同时间内测定数量更多。
 
■卤素系列阻燃剂中微量Cd
〔keV〕
 
 
为什么需要高分辨率?
可以减轻目标元素附近的其他共存元素的重叠影响。
 
■ 卤素系列阻燃剂中微量Pb
〔keV〕
 
 
为什么需要高精度?

在IEC提出的合格判定中,分析装置的重现性对判定结果有很大的影响,重现性越好(即测定精度越高),合格判定的准确度就越高。

 

利用滤光片提高灵敏度/还可以进行高灵敏度的无卤素分析

标准配备了5种滤光片,可降低、除去形成背景成分的X射线管的散射线,提高检测灵敏度。

本装置在RoHS/ELV/无卤素分析中会自动选择3种zui合适的滤光片,进行高灵敏度测定。 
 
受X射线管Rh的特征X射线影响的Cl也可以测定
 微量成分:Cl(除去特征X射线)

利用滤光片提高检测灵敏度

微量成分:Pb(背景降低)

 
 

滤光片条件灵活,满足客户要求

如果您希望在短时间内对多个样品进行测定,推荐使用单个滤光片进行高速分析。
 

<由单个滤光片进行高速分析> 测定时间:100秒

如果您希望对微量元素进行高灵敏测定,可以选择各种滤光片进行高灵敏度分析。
与单个滤光片高速分析相比,灵敏度约提高2~3倍。

 

<由滤光片进行高灵敏度分析>
测定时间:300秒(100秒×3通道)

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