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日立镀层测厚仪

日立镀层测厚仪

  • 产品型号:X-Strata920
  • 更新时间:2021-03-16
  • 产品介绍:日立镀层测厚仪
    X-Strata920 是一款简洁、坚固和可靠的质量控制 XRF 台式荧光系统,用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。 可应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定(如珠宝鉴定)等行业,完成单层或多层厚度测量。
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产品介绍

日立镀层测厚仪

 

X-Strata920 是一款简洁、坚固和可靠的质量控制 XRF 台式荧光系统,用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。X-Strata920 可应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定(如珠宝鉴定)等行业,完成单层或多层厚度测量。

主要特点包括:

▪ 成本低、快速、非破坏的 EDXRF 分析

▪ 可完成至多 4 层镀层(另加底材)和 15 种元素的镀层厚度测试,自动修正 X 射线重叠谱线

▪ 多元素辨识,广泛覆盖元素周期表上从钛(22 号)到铀(92号)各元素

 

使用能量色散 X 射线荧光(EDXRF)技术, X-Strata920 可实现如下测试要求:

▪ 符合 ISO3497 标准测试方法:金属镀层—X 射线光谱法测量镀层厚度

▪ 符合 ASTM B568 标准测试方法:X 射线光谱仪测量镀层厚度,包括金属和部分非金属镀层

▪ 至多同时分析 25 种元素

 

日立镀层测厚仪

井深式、开槽式样品仓设计

▪ “井深式”样品仓设计,可以测量很小到很大的广泛尺寸的样品/零件 ,可测量样品高度不超过 160mm (6.3”)。样品台支架可放置在“深井”中的 4 个位置的卡槽上,使得不同样品都可以方便地测量。

▪ 样品台支架放置在标准位置时,就是“开槽式样品仓”,可以测量大型平板样品,如尺寸大于仪器宽度的印制线路板。所有样品可以很方便地放置并定位到待测点。

▪ Z 轴自动控制(Z 向行程:43mm/1.7”)

▪ 样品仓内部尺寸:152 x 279 x 508mm (6 x 11 x 20") (高 x 宽 x 深 D)

 

简洁、坚固、耐用的设计

▪ 经实践验证、坚固、耐用的设计,可在大多数严苛的工业条件下使用。

▪ 空间占用小 –节约宝贵的工作台空间,也可近产线放置。

▪ 计算机提供 USB 和网络接口用于连接打印机、光驱和网络。

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