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产品详细页
HORIBA堀场X射线荧光分析仪

HORIBA堀场X射线荧光分析仪

产品介绍

HORIBA堀场X射线荧光分析仪

型号MESA-50K

 

为了满足 RoHS/ELV 测试和分析有害元素,HORIBA 提供了 X 射线荧光分析仪 XGT-1000WR 系列。后续HORIBA发布了直观便捷的 MESA-50 X射线荧光分析仪,后续MESA-50系列增加了一种带有大样品室的新型 MESA-50K, 它配备了无需液氮的精密检测器,As/Sb 分析功能和多层膜FPM 可作为可选功能。

 

应用:

对涂层进行无损的厚度和成分分析、固体废物管理和修复服务中的固体废物燃烧器和焚化炉、电子行业的显微XRF 分析、铅污染的玩具分析

 

特点

1. 快速

硅漂移检测器(SDD) 大幅度减少了测量时间,在高通量的同时提供了更高的灵敏度

2. 小巧

便携、体积小、重量轻

内部电池供电

3. 简单

减少日常维护工作(无需液氮)

无需真空泵

各种材料测量直观简单

4. 智能

英文/日文/中文多语言操作界面

Excel数据管理工具

5. 安全

无需担心 X 射线泄漏

 

HORIBA堀场X射线荧光分析仪

技术参数

基础项

 

原理

能量分散性X射线荧光光谱

目标应用

RoHS, ELV, Halogen Free

测量元素

13Al - 92U

样品类型

固体, 液体, 粉末

X-ray 发生器

 

X-ray

不超过50kV, 0.2mA

X-ray辐射尺寸

1.2mm, 3mm, 7mm (自动切换)

X-ray初级过滤器

4 types (自动切换

检测器
 

类型

SDD (Silicon Drift Detector)

信号处理器

数字脉冲处理器

样品仓

大气环境

空气

样品观察

CCD相机

样品仓尺寸

460 x 360 x 150 mm [W x D x H]

应用

操作

PC (Windows® 7)

电源

100-240V, 50/60Hz

仪器尺寸


590 x 590 x 400 mm [W x D x H]

重量


60 kg

软件

分析功能

多层膜FPM法(可选)

Sb/As分析(可选)

Windows是微软公司的注册商标.


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