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产品详细页
HORIBA堀场微区X射线荧光分析仪

HORIBA堀场微区X射线荧光分析仪

  • 产品型号:XGT-9000
  • 更新时间:2023-03-27
  • 产品介绍:HORIBA堀场微区X射线荧光分析仪
    型号XGT-9000
    高分辨相机和多种照明模式成像
    双检测器,荧光X射线检测器和透射X射线检测器
    轻元素检测器使元素检测范围下延到C元素
  • 在线留言 86-21-54933058/54933060/54933358/54182486/28097339

产品介绍

HORIBA堀场微区X射线荧光分析仪

XGT-9000

 

速度和灵活性兼备是微区 X 射线荧光光谱的发展方向

   

<15µm高强度X射线头,兼具高灵敏度和高空间分辨率

高分辨相机和多种照明模式成像

双检测器荧光X射线检测器和透射X射线检测器

轻元素检测器使元素检测范围下延到C元素

 

HORIBA堀场微区X射线荧光分析仪

技术参数

型号

XGT-9000

XGT-9000SL

基本信息

仪器

微区X射线荧光分析仪

样品类型

固体、液体、颗粒

检测元素

轻元素检测器:C* – Am
(常规检测器:F – Am)

样品仓尺寸

450(W) x 500(D) x 80(H)

1030(W) x 950(D) x 500(H)

最大样品尺寸

300(W) x 250(D) x 80(H)

500(W) x 500(D) x 500(H)

样品最大质量

1 kg

10 kg

光学观察

两个带物镜的高分辨率相机

光学设计

垂直同轴 X 射线和光学观察

样品照明/观察

顶部、底部和侧向照明/明场和暗场

X-射线管

功率

50 W

电压

50 kV以下

电流

1 mA以内

靶材

Rh

X射线光光学系统

X射线头数量

多达配置四个

光谱优化初级X-射线滤光片  

5个位置

检测器

荧光X-射线检测器

硅漂移检测器(SDD)

透射X射线检测器

NaI(Tl)

扫描分析

扫描范围

100 mm x 100 mm

350 mm x 350 mm

步进尺寸

2 mm

4 mm

Operating mode

样品环境

全真空/局部真空/大气环境/He吹扫(选配)

局部真空/大气环境/He吹扫(选配)*He吹扫条件对于两个检测器都检测到C和F是必要的。


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