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美国AXOMETRICS偏光测量仪

美国AXOMETRICS偏光测量仪

  • 产品型号:AxoScan
  • 更新时间:2024-03-21
  • 产品介绍:美国AXOMETRICS偏光测量仪AxoScan 是测量样品偏振特性的系统。AxoScan可被偏振片、缓震膜和液晶显示器制造商以及这些产品的用户所采用。AxoScan 可以测量偏振特性(全穆勒矩阵),报告样品的关键偏振参数(偏振片特性、缓释片特性、去极化特性)
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产品介绍

美国AXOMETRICS偏光测量仪

AxoScan 是测量样品偏振特性的系统。AxoScan可被偏振片、缓震膜和液晶显示器制造商以及这些产品的用户所采用。AxoScan 可以测量偏振特性(全穆勒矩阵),报告样品的关键偏振参数(偏振片特性、缓释片特性、去极化特性)。测量在单个位置进行,通常是直径为 1.5 毫米或 3 毫米的光束。如果需要测量更小的特征,可考虑使用 AxoStep 成像偏振仪。与只测量特定偏振参数子集的 "部分 "或 "不完整 "偏振仪不同,AxoScan 和 AxoStep 可测量完整的穆勒矩阵。穆勒矩阵的 16 个元素包含了样品可能的偏振特性。有易于使用的软件可自动将穆勒矩阵转换为透射率、偏振片特性(衰减和偏振)、延迟和去极化等有意义的参数。Axometrics 还可为较多行业提供特定应用软件。

 

美国AXOMETRICS偏光测量仪

技术参数

型号

MMSP-VIS

波长范围

400-1000 nm

探测器类型

硅光电二极管

分辨率

1320 x 1024

时间

1~2.5秒/区域

探测器尺寸

7.87毫米(直径)

型号

MMP-HSO

波长范围

380-700 nm

探测器类型

光电倍增管

型号

MMP-NIR

波长范围

1250 - 1600 nm  

探测器类型

InGaAs 光电二极管

 

 

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