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ROHS/ELV/WEEE有害元素荧光X射线检查装置

ROHS/ELV/WEEE有害元素荧光X射线检查装置

  • 产品型号:XGT-5700WR
  • 更新时间:2020-07-23
  • 产品介绍:ROHS/ELV/WEEE有害元素荧光X射线检查装置
    在保留XGT-1000WRX射线荧光光谱仪优点的基础上,Horiba又推出用于微区分析的X荧光分析仪。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技术,可将X射线聚集成10µm射线束。不但可以对样品的表面进行形貌扫描,也可对样品的内部结构透视扫描,甚至还可以实现元素扫描.
  • 在线留言 86-21-54933058/54933060/54933358/54182486/28097339

产品介绍

ROHS/ELV/WEEE有害元素荧光X射线检查装置

在保留XGT-1000WRX射线荧光光谱仪优点的基础上,Horiba又推出用于微区分析的X荧光分析仪。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技术,可将X射线聚集成10µm射线束。不但可以对样品的表面进行形貌扫描,也可对样品的内部结构透视扫描,甚至还可以实现元素扫描.

概要

应用

PCB基板的扫描为例

 

电子组件内部的异物、故障解析为例

特征

 

XGT-5700WR系列

X线照射径

Ø3mm标准
Ø100μm或Ø10μm

一次X线滤膜

Ø3mm照射径:4种自动切换
Ø10μm照射径:无滤膜
Ø100μm照射径:无滤膜

二次X线滤膜

用于金属中有害元素高灵敏度测定的标准装备
(ON/OFF自动切换)

X线检测器

液体氮气冷却3L

高纯度Si检测器

样品形状

不超过350×400×40mm

样品载台

扫描范围:100×100mm、 200×200mm(可选)

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