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LW200-4JT 正置金相显微镜

LW200-4JT 正置金相显微镜

产品介绍

 

一、产品介绍

LW200-4JT适用于厂矿企业、高等院校及科研机构作金相、岩相、矿相等材料表面组织结构的薄片观察检测。也可用于电子工业部门作晶体,芯片及新材料等方面的检验与分析。

*的100X干镜可媲美国外同类产品,为国内市场配置zui的产品.

 

二、主要技术参数:

1.三目镜筒:倾斜45 °可旋转360 °,瞳距55mm-75mm

             视度±5°辅助倍数1.25X

2.平场目镜:高眼点10X/20mm可选配市场地直径24mm

3.长距平场物镜: PLL4X/37.5,10X/7.31,40X/0.63,80X/0.96

4.总放大倍数:40X-800X

5.载物台:尺寸160mm*140mm
 移动范围 75*50mm

6.聚焦镜:可调式阿贝聚焦镜NA1.25 
孔镜光栏  滤色片座

7.调 焦 :粗微动同轴  升降范围25mm 
微动格值0.002mm 

8.暗场装置

9.光 源:柯勒照明  正交偏振装置 滤色片座           
可调卤素灯 12V/50W   

可选配件:300万数字彩色摄像头,金相分析软件

         佳能数码相机  100X(干镜) 

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