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日本RHESCA探针初粘力测试仪

日本RHESCA探针初粘力测试仪

  • 产品型号:TAC2000
  • 更新时间:2026-11-04
  • 产品介绍:日本RHESCA探针初粘力测试仪
    TAC2000通过结合影像分析实现接触状态的可视化,以及精密的压力控制、加热控制等多种技术手段,可有效支持粘附行为的基础分析。该设备实现了基于真实环境的高量化和高再现性,推动粘附性能评估迈向新阶段。
  • 在线留言 86-21-54933058/54933060/54933358/54182486/28097339

产品介绍

日本RHESCA探针初粘力测试仪

型号TAC2000

 

タッキング試験機

Tackiness Tester

 

突破传统探针 tack 测试法的局限,粘附性评估迈入新阶段

探针贴合试验法作为粘附性评估的基本方法,已被广泛应用。但由于探针与试样之间的接触状态及环境条件的影响,其在实际使用环境中对粘附行为的再现性存在不足的问题。

 

TAC2000通过结合影像分析实现接触状态的可视化,以及精密的压力控制、加热控制等多种技术手段,可有效支持粘附行为的基础分析。该设备实现了基于真实环境的高量化和高再现性,推动粘附性能评估迈向新阶段。

 

日本RHESCA探针初粘力测试仪 

特徴

1. 接触状態映像解析

 ・測定時の粘着剤の挙動を観察から解析

 ・キャビティ数や面積を数値化(開発中)

 ・伸長過程映像と応力歪曲線が連動

 

2. 圧力制御

・プローブ接触時の加圧を制御

・2段階加圧や加圧力減少を指定

・プローブ離脱時の引力保持が可能

 

3. プローブ加熱

・プローブ接触面温度を実測

・接触時間= 加熱時間

 

4. 試料加冷却

・ホットプレート(RT ~250℃)

・ペルチェステージ(-10℃~135℃)

 

5. 湿度雰囲気制御

・測定環境の湿度を調湿

・加湿混合器による雰囲気を制御

 

6. UV照射

・UV 照射後に接触測定

・接触状態でUV 照射測定

型号TAC2000

 

タッキング試験機

Tackiness Tester

 

突破传统探针 tack 测试法的局限,粘附性评估迈入新阶段

探针贴合试验法作为粘附性评估的基本方法,已被广泛应用。但由于探针与试样之间的接触状态及环境条件的影响,其在实际使用环境中对粘附行为的再现性存在不足的问题。

 

TAC2000通过结合影像分析实现接触状态的可视化,以及精密的压力控制、加热控制等多种技术手段,可有效支持粘附行为的基础分析。该设备实现了基于真实环境的高量化和高再现性,推动粘附性能评估迈向新阶段。

 

 

特徴

1. 接触状態映像解析

 ・測定時の粘着剤の挙動を観察から解析

 ・キャビティ数や面積を数値化(開発中)

 ・伸長過程映像と応力歪曲線が連動

 

2. 圧力制御

・プローブ接触時の加圧を制御

・2段階加圧や加圧力減少を指定

・プローブ離脱時の引力保持が可能

 

3. プローブ加熱

・プローブ接触面温度を実測

・接触時間= 加熱時間

 

4. 試料加冷却

・ホットプレート(RT ~250℃)

・ペルチェステージ(-10℃~135℃)

 

5. 湿度雰囲気制御

・測定環境の湿度を調湿

・加湿混合器による雰囲気を制御

 

6. UV照射

・UV 照射後に接触測定

・接触状態でUV 照射測定


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